Рентгеноструктурный дифракционный анализ

Технологическая группа "ИНСОЛТ" предлагает рентгеноструктурный дифракционный анализ поликристаллических образцов на автоматизированных дифрактометрах ДРОН. Проводим анализ фазового состава и определение параметров решетки веществ кубической сингонии.

Применение

Одним из неразрушающих методов исследования и контроля структуры является рентгеноструктурный анализ (РСА). Рентгеновские методы позволяют отмечать малейшие изменения в состоянии атомной решетки кристалла, не улавливаемые другими методами. Определение связи между атомной структурой и свойствами вещества позволяет устанавливать рациональный контроль за технологическими процессами, раскрывать причины изменения этих свойств под действием того или иного фактора. Преимуществом РСА является возможность определения не только параметров элементарных ячеек, но и размеров областей когерентного рассеяния (ОКР), которые характеризуют размеры нанокристаллических включений в системе. Существует несколько методов определения размеров ОКР. Вместе с тем обнаруживается определенное отставание в развитии методов рентгеноструктурного анализа для нанокристаллических систем. Многие исследовательские группы, работающие в этом направлении, используют собственные программные разработки.

Исследование образцов проводится как на стандартном дифрактометре ДРОН-6 с комплексов программного обеспечения от НПО "Буревестник", так и на модернизированном автоматизированном дифрактометре ДРОН-3 с программно-аппаратным комплексом собственной разработки, позволяющем проводить анализ с высокой статистикой (более нескольких часов в точке) и обработкой полученных данных. По результатам исследований предоставляется протокол/отчет.

Дифрактограмма порошка TiSiC2 Дифрактограмма порошка ZrN+ZrO2