PSA
Электронно-микроскопические исследования поверхности образцов и статистический анализ распределения поверхностных образований методом визуального анализа.
SEM
Электронно-микроскопические исследования поверхности образцов и энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия на сканирующем электронном микроскопе Inspect S50.
XRD
Рентгеноструктурный дифракционный анализ поликристаллических образцов на автоматизированных дифрактометрах ДРОН. Анализ фазового состава и определение параметров решетки веществ кубической сингонии.